测试

VNA 回波/插入损耗、寿命扭矩循环与 PIM 无源互调测试

• 连接器寿命与扭矩循环试验怎么设：条件与判据

  射频连接器的寿命与扭矩循环试验以固定力矩重复插拔，监测回波损耗与接触电阻漂移，判据是阈值内的复现性衰减。

• 无源互调 PIM 是怎么测的：成因与判据

  无源互调（PIM）由非线性接触引起，测试用双频大功率激励并测三阶产物，判据由系统容忍的底噪决定。

• 用 VNA 测回波损耗与插入损耗的标准流程

  VNA 测回波损耗/插入损耗需先校准到连接器参考面、用定值扭矩连接、选足够频点，并以对测法分离接口贡献。